系統介紹
ST5000系列高性能數字混合信號測試系統
為了更好地滿足客戶高性能、高穩定性的芯片封裝測試需求，加速科技重磅推出了新一代測試系統ST5000系列。
該系列包含ST5000與ST5000HD兩款產品，最高支持1024數字通道配置、1Gbps速率傳輸，Pattern Rate 支持250Mhz。硬件結構采用Direct Docking連接方式，兼容Jtype針卡，最大程度降低客戶轉平臺治具成本。配套設計的公用loadboard，可以極大縮短客戶產品硬件開發周期。ST5000還具有靈活的可擴展性，為后期藍牙測試模塊、RF測試模塊及各類高性價比解決方案奠定了良好基礎。
ST-IDE軟件提供用戶友好的集成開發環境，豐富的開發和調試工具，方便客戶進行測試程序開發。針對工廠批量測試，提供專用的工廠界面，并擁有豐富的數據記錄和分析工具。
產品優勢
應用場景
CIS、指紋芯片、LDO、PMIC、CPLD、FPGA、Audio等半導體晶圓、 器件測試和模塊系統級測試。
目標器件
產品關鍵特性
采用數字混合架構，單板集成數字、模擬混合信號測試功能，支持250/500MHz時鐘頻率，500Mbps/1Gbps數據速率
DFB32H業務板支持32路數字通道，每通道含獨立PPMU模塊，4機臺級聯，最大支持1024路數字通道1024sites并測
每通道192M Vector存儲深度，SCAN模式單SCAN Chain高達3GB，高速通信架構，Pattern加載及測試過程中 的動態修改以廣播方式下發，提高并行測試效率
突破傳統Format限制，由用戶自定義波形，128組timing set、1024組edge set、6edge可調，輸入輸出自由轉換，大大減少程序開發限制
DFB32H業務支持4路DPS（+8.4V/-3.25V電平設定，驅動電流500mA），電源支持Gang Mode
DFB32H業務板支持4路100MHz TMU，1路2MSPS 16bit AWG，1路1MSPS 16bit Digitizer
通信系統標準，超負荷硬件自測系統，保證系統超長時間穩定運行
ST-IDE軟件提供基于Eclipse的IDE開發環境，支持基于C/C++的開發，提供各種開發工具和調試工具
支持單板4通道20V@500mA高壓輸出及測量
支持單板8通道高精度LFAWG功能，THD最高-130dBc, SNR最高112dB
支持單板8通道高精度LFDGT功能，THD最高-115dBc, SNR最高105dB
系統配置
根據測試資源要求，通過模塊擴展，可以滿足資源場景配置。
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